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甲烷分析仪的具体操作内容
来源: | 作者:electronics-101 | 发布时间: 2021-01-20 | 1263 次浏览 | 分享到:
  为便于对光干涉甲烷分析仪在使用中存在问题的分析与处理,必须了解测定器的光学系统。由光源1发出的光线经聚光镜2和狭缝3到达平面镜4,再经平面镜的反射与折射通过空气室5和甲烷室6产生干涉条纹,然后经由折射棱镜7与反射棱镜8通过物镜9,最后进入望远镜系统10,在分划板上产生清晰明亮的干涉条纹。
  
  在实际维修和使用中,理解测定器光干涉的原理、传播的线路,对于日常工作的开展,能起到积极有效的作用。在测定器的内部靠近光源的位置,有一块光学元件平面镜,这块平面镜我们通常称为平行玻璃,平面镜与其配套的底座固定在仪器本体上。光线通过聚光镜后,以45°的交角射向平面镜,同时使镜身向后倾斜约55′,利用光的反射和折射原理产生两条平行光束,达到光干涉的条件。
  干涉条纹间距的宽度与平行光束的间距d、屏与狭缝的距离L有关,距离L默认为不变化,间距d会根据倾斜角55′的改变而变化。为使条纹间距宽度达到要求,平面镜不得移动,一旦移动将使交角45°和倾斜角55′改变,光线反射后不能进入气室或造成干涉条纹消失或干涉条纹宽窄发生变化。当平面镜体和底座与仪器本体的倾角远小于55′时,这时对甲烷分析仪加压,条纹间距变宽,无法读数。如果倾角远大于55′时,则条纹间距变窄,加压则与前面相反。合理地减小或增大底座与本体的倾角,可调整条纹间距的宽度。
  在调校量程为0~10%测定器的基本误差时,可参照上述原理,将第一条干涉条纹调至与分划板零位刻度线重合,如第五条干涉条纹与7.00%的甲烷含量刻度线重合,则确定其示值误差合格。
  通过对甲烷分析仪光干涉原理的分析,在调校光路过程中,干涉条纹在加压后出现条纹向相反方向移动,则可判定平面镜倾斜角向前,调整平面镜倾斜角即可解决。干涉条纹倾斜时,其平面镜及折射棱镜位置摆放正确,则调节反射棱镜或其底座,使光平行返回,使干涉条纹复原。
  分划板上成像不清晰或干涉条纹间的宽窄不符合要求时,调节物镜的前后位置改变成像距离L,可在小范围内调节光干涉条纹之间的宽窄。向光来的方向移动可以使条纹间距变宽,反之移动条纹间距变窄,同时成像清晰度改变。通过对光干涉甲烷分析仪原理的分析,能帮助我们解决有时难以处理但实际较常遇到问题,从而确保测定器调校工作的顺利完成。
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